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材料科学
> PbO2层中Pb元素和O元素的XPS峰
PbO2层中Pb元素和O元素的XPS峰
图片来源:
王广海,李国新,焦清介.
Mg-PbO_2-Ti-PbO_2-PTFE复合薄膜烟火材料的制备及性能 ,
复合材料学报, 2011 (02).
>>查看本文图片摘要
图片关键词:
区域图
程序图
样品图
元素
附着力
原子比
薄膜
所属学科:
工业通用技术及设备
材料科学
图片上下文:
PbO2-PTFE thin film从图3可以看到样品中含有Pb、O、C 3种元素,图4为Pb元素和O元素的XPS局部峰。图4(b)中在138 eV和143 eV处为Pb4f峰,图4(a)中O1s峰位于531 eV处。通过定量分析程序,设置每个元素谱峰的面积计算区域和扣背底方式
....
,由计算机自动计算出每个元素的相对原子分数。通过计算可以得出Pb、O的相对原子分数分别为25.9%、47.8%,原子比接近1∶2,通过分析认为在蒸镀过程中可能有少量分解的Pb也沉积到了基底上,所以造成原子比略大于1∶2。2.2 薄膜附着性能薄膜与基片间存在3种附着力:范德华力、化图4 PbO2层中Pb元素和O元素的XPS峰Fig.4 XPS peaks of Pb and O in PbO2layer 学键力、静电力,除此以外还有氢键或者纯粹的机械锁合。本文中主要研究第1层即Mg层与PTFE间的附着力以及复合薄膜制备后膜层与PTFE间的附着力。测量薄膜附着力的方法有多种
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