专利检索与分析系统
|
意见反馈
|
制图工具
公告: 1.点击检索输入框上方可切换相似检索,上传图片可查找该图片的相似图片。 2.
专利检索与分析系统上线,欢迎试用。
登 录
注册
欢迎您:
未登录
退出
到登录页
图片搜索
相似搜索
检索
高级检索
图片主题:
请以;隔开多个主题词
出版日期:
到
图片类别:
学科类别:
图片大小:
全部
大
中
小
来源数据库:
全部
中国学术期刊网络出版总库
中国博士学位论文全文数据库
中国优秀硕士学位论文全文数据库
中国重要会议论文全文数据库
中国工具书网络出版总库
中国年鉴全文数据库
学术知识图片库
>
化学
> 规整化参数选取对基线拟合误差的影响
规整化参数选取对基线拟合误差的影响
图片来源:
姜安,彭江涛,谢启伟,魏纪平,彭思龙.
一种改进的非对称最小二乘基线校正算法 ,
计算机与应用化学, 2012 (05).
>>查看本文图片摘要
图片关键词:
的影响
规整化
基线
参数选取
拟合误差
谱图
基线校正
所属学科:
化学
图片上下文:
-1段是一中心在2500且开口向下的二次函数;在波数(2000~1000)cm-1段是一中心在1800且开口向上的二次函数;在波数(1000~650)cm-1段是一个指数函数;如图2(b)所示。基线和原始谱图叠加,得到基线漂移谱图,如图2(c)所示。Fig.2SimulatedS
....
pectra(a)Originalspectrum(b)Simulatedbaseline(c)Baselinedriftspectrum.图2仿真光谱图(a)原始谱图;(b)模拟基线;(c)基线漂移谱图Fig.3Impactofregularizationparameteronbaselinefittingerror.(a)41λ10=withdifferentλ(b)4λ=10withdifferent1λ.图3规整化参数选取对基线拟合误差的影响(a)λ取值不同,41λ10=;(b)1λ取值不同,4λ=10输入:参数λ和1λ;1.初始化i←0;2.给定初始基线(0)()()ones(,1)iiz=cm,其中(i)c为直方图背景值3.求取基线(i)z;1)确定正则矩阵()(1)()()(()0)kkiiQdiagyz=<;2)求取()()1()()()()()()()()111()()111kkTkTTkTkTiiiiizQQλDDλDDQQλDDy=+++3)如果收敛,转至步骤4);否则k=k+1;转至步骤1);4)得到的基线记为(i)z。4.用直方图背景估计法,计算校正光谱(i)yz的背景值(i1)c+,如果(i1)(i)ccε+<,转步5;否则,令(i)y=yz,i=i+1,转步2;5.算法终止,得到基线校正后的谱图y;输出:基线校正后的谱图y。
>>展开全部
相关图片
同文图片
语义相关
读者推荐
相似图片
浏览历史
本单位未订购此产品,请填写调查问卷可
免费获取
下载权限.
京 ICP 证 040431 号
网络出版服务许可证 (总)网出证(京)字第 271 号
经营性网站备案信息
京公网安备 11010802020460 号
《中国学术期刊(光盘版)》电子杂志社有限公司
KDN 平台基础技术由 KBASE 11.0 提供. © 1998-2021 中国知网(CNKI)
用户手册
|
产品标准
|
数据标准
|
图片分类说明