学术知识图片库 > 材料科学 > 腐蚀不同时间的银纳米线扫描电镜照片
腐蚀不同时间的银纳米线扫描电镜照片
图片来源:
  • 香文林,蒋利强,蒋贤令,陈雷,王学伟. 利用STM测量银纳米线的电输运性能 , 天津理工大学学报, 2012 (03). >>查看本文图片摘要
图片关键词: 扫描电镜照片银纳米线
所属学科: 材料科学
图片上下文:
  • 间后的银纳米线的扫描电镜照片.从图3(a)可以看出当腐蚀较短时很少有银纳米线暴露出来,只是氧化铝表面的结构已经被破坏.随着腐蚀时间的延长许多银纳米线都被腐蚀出来(见图3(b)所示),同时在长度上纳米线很大一部分仍都埋藏在氧化铝的孔洞里,纳米线之间都能相互地隔离开.这些暴露出来的银....
  • >>展开全部
京 ICP 证 040431 号  网络出版服务许可证 (总)网出证(京)字第 271 号 经营性网站备案信息
京公网安备 11010802020460 号
《中国学术期刊(光盘版)》电子杂志社有限公司
KDN 平台基础技术由 KBASE 11.0 提供. © 1998-2018 中国知网(CNKI)
可信网站 诚信网站