| 文献标题： |
利用STM测量银纳米线的电输运性能 |
| 文献来源： |
香文林;蒋利强;蒋贤令;陈雷;王学伟; 天津理工大学学报 2012年 03期 |
| 文献关键词： |
纳米线电沉积电输运扫描隧道显微镜 |
| 文献摘要： |
随着微电子器件的小型化,金属纳米线的电输运性能成为大家研究的目标,而如何获得一种简单快捷的测量方式又一直是研究人员关注的焦点问题.本文尝试通过利用扫描隧道显微镜(STM)的工作原理和结构特点,研究沉积在多孔氧化铝模板孔洞里银纳米线的电输运行为,获得几根银纳米线电压与电流(I-V)之间的变化曲线,并根据银纳米线形貌和结构的表征结果分析电子传输的机理. |