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文献标题: 氢氟酸处理对二硅酸锂玻璃陶瓷表面形貌及粗糙度的影响
文献来源: 任冬锋;骆小平;  中华口腔医学研究杂志(电子版)  2013年  01期
文献关键词: 玻璃陶瓷酸蚀场发射扫描电子显微镜原子力显微镜表面粗糙度
文献摘要: 目的探讨氢氟酸处理时间对二硅酸锂玻璃陶瓷表面形貌及粗糙度的影响,拟为与之相关的玻璃陶瓷机械强度和树脂粘接强度做出初步解释。方法采用失蜡铸造法制作直径10mm、厚1mm的玻璃陶瓷片状试件15个,打磨抛光之后随机分为5组,每组3个。陶瓷表面分别接受9.5%的氢氟酸凝胶酸蚀处理0、20、40、60和120s。使用原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度参数和酸蚀深度,观测其表面三维形貌,并结合使用场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)对陶瓷表面微观结构进行观察分析。结果 FE-SEM观察显示,陶瓷表面的玻璃基质首先被氢氟酸侵蚀溶解,随着酸蚀时间的延长,玻璃基质进一步被侵蚀,部分晶体结构也从陶瓷表面脱落、消失。AFM测量酸蚀表面得出,对照组、20、40、60和120s氢氟酸处理组陶瓷片表面粗糙度Ra[分别为(17.2±1.6)、(241.8±23.6)、(290.6±38.2)、(322.6±19.6)和(371.3±43.0)nm]随氢氟酸酸蚀时间的延长而显著增加(P<0.05),且与酸蚀时间成正相关。结论氢氟酸处理可显著增加二硅酸锂陶瓷表面粗糙度。结合使用FE-SEM和AFM能够更好地对玻璃陶瓷的酸蚀表面微观形貌结构进行分析评价。
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