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腐蚀不同时间的银纳米线扫描电镜照片
图片来源:
  • 香文林;蒋利强;蒋贤令;陈雷;王学伟;利用STM测量银纳米线的电输运性能,天津理工大学学报,201203. >>查看本文图片摘要
图片关键词: 扫描电镜照片银纳米线
所属学科: 材料科学
图片上下文:
  • 间后的银纳米线的扫描电镜照片.从图3(a)可以看出当腐蚀较短时很少有银纳米线暴露出来,只是氧化铝表面的结构已经被破坏.随着腐蚀时间的延长许多银纳米线都被腐蚀出来(见图3(b)所示),同时在长度上纳米线很大一部分仍都埋藏在氧化铝的孔洞里,纳米线之间都能相互地隔离开.这些暴露出来的银....
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